Les travaux de la 9è édition du symposium international (Design and Test), dédiée à la thématique de la microélectronique, se sont ouverts mardi à Alger avec la participation de chercheurs algériens et étrangers.
"Cette conférence est une grande opportunité d'échange de vues et de connaissances entre les chercheurs algériens et étrangers de la sphère académique et industrielle", a indiqué, Samir Tagzout, directeur du CDTA (Centre de développement des technologies avancées), organisateur de cette rencontre de trois jours (16-18 décembre).
"Cette rencontre permettra aussi d'explorer les défis émergents et les nouveaux concepts dans la conception, l'automatisation, le test et la fiabilité des produits électroniques allant du circuit intégré, à travers les modules multi-puces et cartes à circuits imprimés, jusqu’aux systèmes et microsystèmes complets", a ajouté M. Tagzout.
Au cours de cette rencontre, les participants auront l'opportunité de discuter, selon le directeur du CDTA, des "meilleures pratiques et des idées nouvelles dans les méthodes de conception de circuits et systèmes intégrés, des outils de test et de fiabilité dans la région Moyen-Orient et Afrique".
Pour M. Tagzout, cette conférence se veut aussi un "espace de formation" de haut niveau et un "carrefour" de convivialité favorisant les rencontres et transfert d'expérience entre chercheurs, industriels et doctorants de divers horizons.
La rencontre qui accueille quelque 150 participants est initiée par le CDTA en collaboration avec le Conférence internationale IEEE Test-technology technical council (TTTC) et le Réseau micro nanoélectronique et micro nano systèmes ainsi qu'avec l'université Saad-Dahleb de Blida.
